XRADIA VERSA 520
Рентгеновский компьютерный микротомограф Zeiss Xradia Versa 520. Основное назначение — неразрушающее исследование геометрии и внутренней структуры с высоким пространственным разрешением (не хуже 1 мкм).
Возможности:
1. Количественное определение плотности (в г/см3) в любой точке образца.
2. Получение виртуальных срезов и секций образца без его разрушения.
3. Обнаружение и измерение микродефектов, пустот и включений.
4. Количественное определение общей пористости материала.
5. Картирование плотности, маркировка участков по уровням плотности.
6. Экспорт объёмной геометрии образца в формате .STL для 3D печати, программирования ЧПУ станков или для компьютерного моделирования (ANSYS и др.)
7. Исследуемый объект может находиться на воздухе или в жидкости.
Характеристики:
- тип рентгеновского источника: закрытая трубка прострельного типа,
- ускоряющее напряжение: от 20 кВ до 160 кВ,
- мощность: от 1 до 10 Вт,
- максимальный размер образца: диаметр – до 260 мм, высота – до 300 мм,
- пространственное разрешение: не хуже 700 нм,
- минимальный размер вокселя: 70 нм.