СЗМ NANOEDUCATOR
Комплекс сканирующих зондовых микроскопов Nanoeducator (NT-MDT) позволяет реализовать различные методы измерений туннельной и «полуконтактной» атомно-силовой микроскопий и может, не только использоваться в учебных, но и в научных целях при исследованиях в области физики и технологии микро и наноструктур, материаловедения, катализа, физики и химии полимеров, трибологии, цитологии и т. п.
Атмосфера: съемка на воздухе
Температура съемки: 25С
Максимальное поле сканирования: 100 х 100 мкм
Минимальные достижимые шумы: менее 50 нм
Основные методы исследований:
-Атомно-силовая микроскопия.
-«Полуконтактный» метод.
-Отображение рельефа.
-Отображение фазы.
-Отображение силы.
-Силовая спектроскопия.
-Работа в жидкости.
-АСМ литография.
-Динамическая силовая литография.
-Сканирующая туннельная микроскопия.
-Отображение рельефа.
-Отображение тока (метод постоянной высоты).
-Измерения работы выхода(Z модуляция).
-Туннельная спектроскопия(dI/dV измерения).
-Работа в диэлектрических жидкостях.
